Latest News and Trends 我国科研人员“以柔克刚”填补微型LED晶圆无损测试技术空白 June 19, 2025 Posted by jeff 19 Jun 微型LED是下一代高端显示技术的核心元件，搭载微型LED的晶圆必须达到100%的良率，否则将会给终端产品造成巨大的修复成本。然而，业界却一直没有找到晶圆接触式无损检测的好方法。近日，我国科研人员用“以柔克刚”的方式填补了这一技术空白。
